Développement d’algorithmes de cotations de défauts et de gestion des alertes en mode opérationnel

Le projet permettra d’évaluer la criticité des évènements enregistrés pour une meilleure visibilité, et générer des alertes d’urgence et de prévention afin d’établir des plans d’action qui empêcheront l’occurrence des évènements répétitifs et critiques à travers une analyse générale des différentes phases du cycle de vie du produit

A l'issu de ce projet, Pratt & Whitney Canada disposera d'un outil d'analyse de la criticité des évènements enregistrés (Écart qualité). Cela permettra de s'orienter vers le déploiement systématique d’actions correctives et préventives adéquates aux évènements majeurs et critiques et de passer d'un mode de collecte d’information passif à un mode d'usage quotidien avec une meilleure visibilité de la situation actuelle et la tendance probable. Cela permettra l'enclenchement d'une véritable gestion amincie (« lean ») des opérations de contrôle qualité, centrées sur les risques, en effet des gains seront envisagés à travers la réduction des problèmes qualité sévère et récurrent. Les résultats dans l'industrie des semi-conducteurs [1] laisseront présager des gains de plusieurs millions de dollars.

Faculty Supervisor:

Samuel-Jean Bassetto & Mohamed-Salah Ouali

Student:

Elbadiry Anouar Hakim

Partner:

Pratt & Whitney Canada

Discipline:

Mathematics

Sector:

Advanced manufacturing

University:

Polytechnique Montréal